add semiconductors example

README.md

@@ -109,17 +109,19 @@
 | [![visualization](https://colab.research.google.com/assets/colab-badge.svg)](https://colab.research.google.com/drive/1LJVdWTv-wcASSMX4is_E15TR7XJsT7W3?usp=sharing)| visualization |
 
 ### Сценарии использования
-В этом блоке представлены примеры использования eXplain-NN для решения различных вариантов использования в промышленных задачах. Для демонстрационных целей используются 3 задачи:
+В этом блоке представлены примеры использования eXplain-NN для решения различных вариантов использования в промышленных задачах. Для демонстрационных целей используются 4 задачи:
 * [спутник] классификация ландшафтов по спутниковым снимкам.
 * [электроника] классификация электронных компонентов и устройств
 * [ЭКГ] диагностика ЭКГ
+* [полупроводники] детекция дефектов при тестировании полупроводниковых пластин
 
 | Colab Link | Task | Use Case |
 | ------------- | ------------- | ------------- |
 | [![CNN_viz](https://colab.research.google.com/assets/colab-badge.svg)](https://colab.research.google.com/drive/12ZJigH-0geGTefNXnCM5dQ71d4tqlf6L?usp=sharing)| спутник | Визуализация изменения многообразия данных от слоя к слою |
 | [![adv](https://colab.research.google.com/assets/colab-badge.svg)](https://colab.research.google.com/drive/1n50WUu2ZKZ6nrT9DuFD3q87m3yZvxkwm?usp=sharing) | спутник | Детекция adversarial данных |
 | [![generalize](https://colab.research.google.com/assets/colab-badge.svg)](https://colab.research.google.com/drive/1mG-VrP7J7OoCvIQDl7n5YWEIdyfFg_0I?usp=sharing) | электроника | Оценка обобщающей способности нейронной сети |
 | [![RNN_viz](https://colab.research.google.com/assets/colab-badge.svg)](https://colab.research.google.com/drive/1aAtqxQLcOsSJJumfsmS9HGLgHrOFHlfk?usp=sharing) | ЭКГ | Визуализация изменения многообразия данных от слоя к слою |
+| [![wafer](https://colab.research.google.com/assets/colab-badge.svg)](https://colab.research.google.com/drive/1nGpnO1wC7jp3fW4rjVfucvKyz_FA8hYp?usp=sharing) | полупроводники | Детекция дефектов при тестировании полупроводниковых пластин |
 
 ## Как помочь проекту
 [Инструкции](/docs/contribution.md).

README_eng.md

@@ -108,17 +108,19 @@ Here are colabs demonstrating how to work with different modules of our API on s
 | [![visualization](https://colab.research.google.com/assets/colab-badge.svg)](https://colab.research.google.com/drive/1LJVdWTv-wcASSMX4is_E15TR7XJsT7W3?usp=sharing)| visualization |
 
 ### Use Cases
-This block provides examples how eXplain-NNs can be used to solve different use cases in industrial tasks. For demonstration purposed 3 tasks are used:
+This block provides examples how eXplain-NNs can be used to solve different use cases in industrial tasks. For demonstration purposed 4 tasks are used:
 * [satellite] landscape classification from satellite imagery
 * [electronics] electronic components and devices classification
 * [ECG] ECG diagnostics
+* [semiconductors] failure detection in wafer mapping
 
 | Colab Link | Task | Use Case |
 | ------------- | ------------- | ------------- |
 | [![CNN_viz](https://colab.research.google.com/assets/colab-badge.svg)](https://colab.research.google.com/drive/12ZJigH-0geGTefNXnCM5dQ71d4tqlf6L?usp=sharing)| satellite | Visualization of data manifold evolution from layer to layer |
 | [![adv](https://colab.research.google.com/assets/colab-badge.svg)](https://colab.research.google.com/drive/1n50WUu2ZKZ6nrT9DuFD3q87m3yZvxkwm?usp=sharing) | satellite | Detecting adversarial examples |
 | [![generalize](https://colab.research.google.com/assets/colab-badge.svg)](https://colab.research.google.com/drive/1mG-VrP7J7OoCvIQDl7n5YWEIdyfFg_0I?usp=sharing) | electronics | Estimating generalization of a NN |
 | [![RNN_viz](https://colab.research.google.com/assets/colab-badge.svg)](https://colab.research.google.com/drive/1aAtqxQLcOsSJJumfsmS9HGLgHrOFHlfk?usp=sharing) | ECG | Visualization of data manifold evolution from layer to layer |
+| [![wafer](https://colab.research.google.com/assets/colab-badge.svg)](https://colab.research.google.com/drive/1nGpnO1wC7jp3fW4rjVfucvKyz_FA8hYp?usp=sharing) | semiconductors | Failure detection in wafer mapping |
 
 ## Contribution Guide
 The contribution guide is available in the [repository](/docs/contribution.md).